泰克公司日前宣布了開放式NAND閃存接口（ONFI）標準的業界首款測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案可用于泰克高性能示波器，包括用于分析ONFI總線上DDR2 / 3模式的軟件，以及基于插入器的有效探測解決方案。

ONFI工作組發布了ONFI標準，以簡化NAND閃存到消費電子產品和計算平臺的集成。ONFI 4.0規范引入了具有VccQ = 1.2V操作的演進型NV-DDR3接口，以提高性能和降低功耗，將NV-DDR2和NV-DDR3 I / O速度擴展至667 MT / s和800 MT / s，并增加了ZQ校準功能。

隨著速度的提高和電壓水平的下降，使用ONFI總線的設計人員面臨著確保合規性，調試時序問題并獲得信號訪問權的挑戰。TEK-PGY-ONFI軟件使設計和測試工程師能夠測試ONFI接口是否符合ONFI總線時序參數，并提供命令，地址，數據輸入和數據輸出事務的自動測量。TEK-PGY-ONFI軟件的詳細視圖功能通過用模擬波形注釋ONFI波形的每個電測量值來幫助調試時序問題。

密集的封裝和高數據速率使對NAND閃存設備的高保真信號訪問具有挑戰性。泰克為各種不同的機械尺寸提供支持，包括插口式，直接連接式和獲得專利的邊緣探針設計，可滿足極其嚴格的機械要求。中介層和探頭的S參數模型可用于建模或生成要應用于示波器的去嵌入濾波器。

TEK-PGY-ONFI軟件可在帶寬為4GHz -33GHz的Tektronix MSO / DPO70000系列示波器上運行，并建議使用P7500或P7300系列探頭進行測試。對于一些測試ONFI的客戶，信號訪問可能很差或根本無法使用，因此，泰克建議Nexus使用ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真中介層，以在保持信號完整性的同時實現信號訪問。

泰克公司高性能示波器總經理Brian Reich表示：“這種ONFI測試解決方案為我們的客戶提供了他們所需的見解，使他們能夠更快，更自信地將基于內存的產品推向市場。” “與手動測試相比，該解決方案將大大減少合規性測試時間，簡化調試并最終提高生產率。”

新的TEK-PGY-ONFI軟件增加了Tektronix為其他存儲技術（包括eMMC，UFS和DDRA）提供的全面解決方案。