泰克公司日前宣布推出FPGAView?，這是FS2的用于Tektronix TLA邏輯分析儀的軟件包，可對Altera?FPGA進行實時調試。使用FPGAView，設計工程師可以快速輕松地測量Altera FPGA設計中的信號，并選擇要探查的內部信號組，而無需重新編譯其設計。

FS2副總裁兼總經理Rick Leatherman表示：“我們與Tektronix和Altera的合作關系使客戶能夠在使用Altera FPGA進行設計時提高生產率并減少調試時間。“通過利用我們的調試知識產權，探測技術和PC軟件專業知識來創建FPGAView，我們為設計人員提供了一種工具，可以快速，輕松地測量信號而無需重新編譯設計。這實際上節省了時間和金錢。”

FPGAView軟件包安裝在Tektronix邏輯分析儀上，通過Altera的Quartus?II設計軟件版本5.1中引入的邏輯分析儀接口功能啟用。邏輯分析儀接口功能允許通過用戶可配置的多路復用器將大量內部信號映射到少量輸出引腳。通過將Tektronix邏輯分析儀通過JTAG端口連接到FPGA，FPGAView可以控制將哪些內部FPGA信號映射到輸出引腳以進行實時顯示和調試。設計人員會發現，與其他調試方法相比，FPGAView，Altera邏輯分析儀接口功能和Tektronix邏輯分析儀的組合更易于使用，且侵入性更低。

泰克邏輯分析儀產品線副總裁David Bennett表示：“隨著FPGA密度的提高和復雜程度的提高，設計人員正在尋找更容易，更高效的方法來調試設備的內部節點。“對于泰克邏輯分析儀而言，這種新的調試解決方案不僅使設計團隊能夠查看其Altera FPGA設計的內部操作，還使他們能夠將這些信號與板上的其他信號相關聯。”

Altera產品和企業營銷副總裁Danny Biran表示：“隨著FPGA設計變得越來越復雜，縮短設計周期時間的壓力越來越大，快速調試FPGA的能力就變得越來越重要，從而推動了對諸如FPGAView之類的解決方案的需求。“設計人員可以利用Tektronix邏輯分析儀的先進功能和FPGAView的自動調試過程來快速，輕松地完成設計并達到其上市目標。”

FPGAView可用于所有Tektronix TLA邏輯分析儀。此外，FPGAView可與Altera的ByteBlaster?和USB-Blaster?編程電纜配合使用，從而無需在邏輯分析儀中手動輸入信號名稱。