Tektronix公司今天發布了一款新的45 GHz光調制分析儀(OMA)，能夠支持最新的100 G和下一代400 g通信標準。由于對單載波或多載波系統的支持，該分析儀與tektronix dpo 70000sx 70 ghz ati性能示波器緊密集成在一起。今日宣布為測試相干光發射機、傳輸系統和接收機提供多通道、高采樣率、低噪音的復雜調制信號數字化。

使用新的5/4“高性能示波器封裝使工程師可以靈活地將多個采集通道與最小的機架或工作臺空間影響放在一起。例如，新的70 GHz儀器中的兩個可以與標準的實驗室性能示波器放在同一個空間。這提供了額外的捕獲性能，同時最小化了與調制分析器的距離，從而提高了信號的保真度。

為了確保在多通道環境下的精確性能，新的UltraSync解決方案使多儀器采集系統能夠比任何單一儀器中的典型信道對信道抖動更好地協調觸發固有的捕獲到捕獲抖動。此外，它還包括高速數據路徑，將波形從擴展單元傳送到主單元進行快速分析。

集成測試解決方案加快上市時間

移動和云計算的爆炸性增長繼續推動著遠程光通信帶寬的需求。為了最大限度地利用光纖和網絡基礎設施投資，業界已經轉向了復雜的光調制格式，這種格式允許更高的有效數據速率，而不需要更大的網絡帶寬。到目前為止，研究人員和工程師需要求助于多個測試和測量供應商，甚至需要構建自己的測試裝置來執行所需的測試，這需要花費寶貴的研究時間和減少重復性。隨著今天的介紹，tektronix已經解決了如何有效測試相干調制技術的全行業問題。

“隨著100 G技術開始進入主流，400 G正成為人們關注的焦點，我們從客戶那里聽說，配置靈活性和測量系統集成是確保快速上市的關鍵因素。”布賴恩·里奇、Tektronix公司績效示波器總經理。除了在45 GHz提供新的光調制接收機外，我們現在提供最完整的相干光解決方案，其信號完整性為70 GHz帶寬的ATI示波器，并改進了配置靈活性。“

表演的今天與未來

這個OM 4245 45 GHz光調制分析儀可進行高達80 Gbaud的雙偏振相干光學分析.它提供內置的窄線寬激光器，并支持TektronixOM-系列用戶界面(OUI)。Tektronixoui為典型的分析應用提供了良好的易用性，同時也為更高級的相干光學分析提供了MATLAB計算引擎研究人員所需的靈活性和訪問權限。這為在相干調制算法中進行實驗提供了一個健壯、省時和可定制的平臺.

隨著100 G的需求演變為400克，甚至1TB，工程師需要一個測試和測量系統，可以隨著他們的需求增長。新的Tektronix DPO70000SX ATI性能示波器允許隨著性能需求的變化而方便系統擴展。對于400 g以上的分析，OM 4245提供多載波支持(可選MCS)，為包括800 g和1TB架構在內的任何多載波系統配置提供自動分析。

新的45 GHz的OMA和70 GHz的示波器正在展示在OFC 2015發生在本周洛杉磯，加利福尼亞州。OFC是為光通信和網絡專業人士舉辦的最大規模的全球會議和博覽會。