泰克特羅尼公司(tektronix，inc.)今天為其推出了新的光學模塊。DSA 8300采樣示波器，具有行業最高的掩模測試靈敏度和最低噪音，以及新的特點，增加生產能力和提高產量，目前100 G設計進入生產。該公司還公布了對其400 g測試解決方案的增強，包括IEEE以太網標準驅動發射機和色散閉眼(TDECQ)PAM 4以及相關的光學測試支持測量。

新的模塊和功能，以及完整的100 G/400 g光學特性和驗證的Tektronix解決方案將在OFC光網絡和通信會議以及今天的展覽2017年3月23日在……里面加州洛杉磯.

“隨著100 G的設計進入生產階段，制造產量變得至關重要，”他說。布賴恩·里奇、Tektronix公司績效示波器總經理。我們的最低固有噪音使人們對測試結果更有信心，并推動光學元件和互連線制造產量的提高。同時，我們繼續以全面的工具和特性引領400克，以便在新一代數據傳輸中進行深入分析和有效調試。“

當安裝在DSA 8300取樣示波器中時，新的80C17和80C18光學模塊提供超過28 GBD PAM 4標準要求的-14 dBm的掩模測試靈敏度，同時提供行業最佳的3.9W的噪聲性能和寬波長支持。該雙通道80C18使光學制造測試工程師雙倍的吞吐量和容量.如果設備失敗，Tektronix提供分析工具來分解噪音和抖動的信號內容，以幫助工程師理解潛在的問題。