我們邀請(qǐng)您加入我們的網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。八月二十五日(星期二)下午一時(shí)下午四時(shí)。我們將討論將GMW在電磁鐵和磁建模方面的專業(yè)知識(shí)與Celadon在探測(cè)卡方面的專長(zhǎng)結(jié)合起來，并測(cè)試與所有Prober兼容的完整集成解決方案。完整的探針卡通常用于晶圓內(nèi)參數(shù)測(cè)試、建模、表征和晶圓級(jí)可靠性以及功能測(cè)試。

發(fā)言者：

Tom King，博士，GMW協(xié)會(huì)首席磁科學(xué)家

Celadon系統(tǒng)公司首席執(zhí)行官Karen Armendariz

Bill Funk，Celadon系統(tǒng)公司首席技術(shù)官

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