Tektronix公司今天公布了兩個新的源測量單元(SMU)的模塊。Keithley 4200 A-SCS參數分析儀這可以執行低電流測量，即使存在高負載電容，因為長電纜和復雜的測試裝置。面臨這一挑戰的顯著測試應用包括LCD顯示、制造和卡盤上的納米FET設備測試。

新的4201-SMU和4211-SMU專門為長電纜、開關矩陣、卡盤的柵極觸點和其他固定裝置設計。在一些小電流測量應用中需要這樣的測試裝置，可以增加在輸出端所看到的電容。SMU盡管被測試的設備本身的電容非常低。當測試連接電容過高時，產生的低電流測量結果可能變得不穩定。

Tektronix 4200A Voltage Sweep

Tektronix 4200 A電壓掃描

Tektronix Keithley SMU Modules

Tektronix Keithley SMU模塊

為了應對這些挑戰，新的模塊可以使用傳統的SMU，使用更長的電纜或更多的連接電容來實現電壓源和電流測量。這節省了研究人員和制造測試工程師的時間和成本，否則將花費故障排除和重新配置測試設置。

“由于精密的測試裝置而產生的高負載電容是一個日益嚴重的問題，因為為了節省能源，降低了當前的水平，就像測試最終會在智能手機或平板電腦上出現的大型液晶面板一樣，”彼得格里菲斯，Tektronix公司Keithley分部系統和軟件總經理。“我們的新模塊擅長于進行穩定的低電流測量，并將立即使我們的許多現有和未來客戶受益。”

在最低支撐電流測量范圍內，4201-SMU和4211-SMU可以來源和測量一個比今天可能的系統容量高1000倍的系統。例如，如果電流電平在1到100 Pa(微微安培)之間，新的Keithley模塊可以穩定的負載電容高達1F(微法拉第)。相反，在測量穩定性下降之前，最大負載電容競爭單元僅能耐受1000 pF(皮氏)，或更差1000倍。

4201-SMU和4211-SMU可以訂購4200 A-SCS預配置的全參數分析解決方案，或作為對現有機組的現場升級。升級可以很容易地在現場完成，而不需要將該單元發送到服務中心，從而可能節省幾周的停機時間。

關于4200 A-SCS

4200 A-SCS是一種可定制和完全集成的參數分析器，它提供對電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V)和超快脈沖I-V特性的同步洞察，以加速半導體、材料、工藝開發和制造。每個4200 A-SCS可以配置多達9個SMU。該系統的clarius軟件用戶界面提供觸摸和滑動或點擊控制先進的測試定義，參數分析，繪圖和現代半導體，材料和工藝特性自動化能力。