Tektronix將在歐洲最大的光通信展覽和會議ECOC 2019展示數據中心聯網的最新光學測試創新。這次活動有來自全球近80個國家的300多家公司參與，幫助5000多名與會者利用最新的光學創新，滿足消費者和企業對更多帶寬和更高數據中心性能的需求。Tektronix將接待來自領先研究和商業公司的行業專家，討論新興的光通信設計的趨勢和機會。

“云計算在全球范圍內的快速增長正在推動對高性能數據中心基礎設施的巨大需求。EMEA技術營銷經理迪恩·邁爾斯(Dean Miles)表示：“為了跟上這一無情的需求，開發商正在向400 g技術過渡，以實現更小、更快、更低成本的每比特解決方案。”“有幾項核心技術能夠達到400克，包括使用高階調制和高達56 Gbaud的更高的數據速率。圍繞硅和系統設計的特性、驗證和調試的測試挑戰前所未有。由于ECOC與會者將能夠看到第一手資料，Tektronix公司處于有利位置，可以幫助我們的客戶進一步拓展這些邊界“。

深入洞察400 g設計與驗證- 70 GHz ATI性能示波器采用高帶寬光探針技術對400 g標準單炮PAM-4信號進行實時觸發和后均衡檢錯分析DPO7OE系列

改變如何降低PAM 4測試的成本 - DSA 8300采樣示波器80 GHz光采樣模塊支持基于IEEE802.3bs的TDECQ 400 g光測試，包括NRZ和PAM-4的高靈敏度單模/多模光學測量的新進展。

支持新出現的標準-400 g ZR測試解決方案Tektronix70 GHz ATI性能示波器。測試3的性能RD當事人相干接收技術

每車道200克PAM 4解決方案-以業界領先的時鐘回收技術為特色，處理復雜的電氣及光學信號特征的端對端示范-光學時鐘恢復

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