泰克推出了吉時利S540功率半導體測試系統，用于晶圓級測試完全自動化的，48引腳參數測試系統最高3kV的功率半導體器件和結構。完全集成的S540經過優化，可與包括碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）在內的最新復合功率半導體材料一起使用，可以在單個探頭觸地中執行所有高壓，低壓和電容測試。

隨著對功率半導體器件的需求持續增長以及SiC和GaN越來越商業化，制造商正在其生產過程中采用晶圓級測試以優化產量并提高利潤率。對于這些應用，S540通過最大程度地縮短測試時間，測試設置時間和占地面積來降低擁有成本，同時實現實驗室級的高壓測量性能。

“許多工廠正在使用定制的混合測試系統進行功率半導體測試，當從低電壓測試轉移到高電壓測試時，這些測試系統需要手動更改測試設置。如您所料，這會增加工藝步驟并減慢生產速度，” Mike Flaherty說，泰克公司吉時利產品線總經理。“相比之下，S540是完整的，完全集成的解決方案，非常適合必須快速測試眾多設備的生產環境。”

為了提供生產級的性能，S540最多可以對48個引腳執行參數測量，而無需更改電纜或探針卡基礎結構。它也可以執行晶體管電容測量，例如最高3kV的Ciss，Coss和Crss，而無需手動重新配置測試引腳。S540進一步提高了測試輸出，可提供亞pA的測量性能，并且可以在不到1秒的時間內執行全自動的高壓泄漏電流測試。

作為標準的商業產品，S540提供了完全可追溯的系統規格，安全合規性，診斷以及全球服務和支持，這些功能在家用或自定義系統中通常是缺少的。S540利用吉時利30多年的半導體參數測試專業知識，將行業領先的半導體測試儀器與低壓和高壓開關矩陣，電纜，探針卡適配器，探針驅動器和測試軟件安全，無縫地集成在一起。