泰克推出了吉時利S540功率半導體測試系統,用于晶圓級測試完全自動化的,48引腳參數測試系統最高3kV的功率半導體器件和結構。完全集成的S540經過優化,可與包括碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)在內的最新復合功率半導體材料一起使用,可以在單個探頭觸地中執行所有高壓,低壓和電容測試。

隨著對功率半導體器件的需求持續增長以及SiC和GaN越來越商業化,制造商正在其生產過程中采用晶圓級測試以優化產量并提高利潤率。對于這些應用,S540通過最大程度地縮短測試時間,測試設置時間和占地面積來降低擁有成本,同時實現實驗室級的高壓測量性能。
“許多工廠正在使用定制的混合測試系統進行功率半導體測試,當從低電壓測試轉移到高電壓測試時,這些測試系統需要手動更改測試設置。如您所料,這會增加工藝步驟并減慢生產速度,” Mike Flaherty說,泰克公司吉時利產品線總經理。“相比之下,S540是完整的,完全集成的解決方案,非常適合必須快速測試眾多設備的生產環境。”
為了提供生產級的性能,S540最多可以對48個引腳執行參數測量,而無需更改電纜或探針卡基礎結構。它也可以執行晶體管電容測量,例如最高3kV的Ciss,Coss和Crss,而無需手動重新配置測試引腳。S540進一步提高了測試輸出,可提供亞pA的測量性能,并且可以在不到1秒的時間內執行全自動的高壓泄漏電流測試。
作為標準的商業產品,S540提供了完全可追溯的系統規格,安全合規性,診斷以及全球服務和支持,這些功能在家用或自定義系統中通常是缺少的。S540利用吉時利30多年的半導體參數測試專業知識,將行業領先的半導體測試儀器與低壓和高壓開關矩陣,電纜,探針卡適配器,探針驅動器和測試軟件安全,無縫地集成在一起。