絕緣材料在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生泄漏電流，當(dāng)測(cè)量大電容性電氣設(shè)備時(shí)，可明顯地看到泄漏電流值和加壓時(shí)間有關(guān)。加壓時(shí)間越長，泄漏電流數(shù)值就越低。究其原因，這是由于絕緣材料的吸收現(xiàn)象所引起的。因此，可用I=f(t)的關(guān)系曲線來判斷絕緣缺陷，如圖1所示。在直流電壓作用下， 當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時(shí)， 電流隨加壓時(shí)問下降得比較慢， 最終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較大；絕緣良好時(shí)，電流隨加壓時(shí)間下降得比較快，最終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較小。

圖1 I=f(f)關(guān)系曲線